引言
在《暗房理论 Vol.5》中,我们初步接触了反差控制。本章将从感光测定学 (Sensitometry) 的专业角度,深入剖析胶片的“指纹”——特性曲线(H&D 曲线),并建立反差控制的数学模型。
感光测定学是胶片摄影的定量基础,它由 Hurter 和 Driffield 于 19 世纪末创立,旨在回答一个问题:给胶片多少光,它能产生多黑的银?
特性曲线的数学描述
特性曲线描述了对数曝光量 ($\log H$) 与 光学密度 ($D$) 之间的关系。
坐标系定义
- 横轴:$\log_{10} H$(单位:lux·s)。摄影中,$\Delta \log H = 0.3$ 对应 1 档光圈(Stop)。
- 纵轴:$D = \log_{10} (1/T)$,其中 $T$ 是透射率。
曲线分区模型
一条典型的负片特性曲线可以分为四个区域,我们可以用分段函数来近似:
基底灰雾区 (Base + Fog):
这是胶片未曝光时的固有密度,由片基密度和化学灰雾组成。
趾部 (Toe): 非线性上升区。这是阴影细节的记录区。其形状决定了胶片对暗部的分离能力。 数学上常近似为指数函数或多项式。
直线部 (Straight Line): 线性响应区。
其中斜率 $\gamma$ (Gamma) 代表胶片的反差。这是胶片工作的核心区域,对应中灰和纹理区域。
肩部 (Shoulder): 响应饱和区。密度增长放缓,最终达到 $D_{max}$。肩部的形状决定了高光过度的平滑程度(Highlight Roll-off)。
反差参数详解
1. Gamma ($\gamma$)
直线部的斜率。
- $\gamma = \tan \alpha = \frac{\Delta D}{\Delta \log H}$
- 意义:$\gamma > 1$ 夸大反差;$\gamma < 1$ 压缩反差。
- 局限:现代胶片(尤其是 T-Grain 胶片)往往没有明显的直线部,或者呈“S”形,此时 $\gamma$ 值难以准确定义。
2. 平均梯度 ($\bar{G}$ / Average Gradient)
连接曲线上两点(通常是阴影点 $D_{min}+0.1$ 和高光点 $D_{min}+1.3$)的直线斜率。
这是更实用的指标,涵盖了趾部和直线部。
3. 反差指数 (Contrast Index, CI)
Kodak 提出的改进指标。它通过一个特定的几何作图法(同心圆法)来确定测量点,更能反映底片在放大机上的实际打印反差。通常 CI 目标值为 0.56 - 0.62(对应聚光式放大机)。
显影时间与反差的关系模型
反差不是固定的,它随显影时间 $t$ 变化。我们可以建立经验模型:
- $\gamma_{\infty}$:该胶片-显影液组合能达到的最大反差。
- $k$:显影速率常数。
- $t_0$:诱导期(Induction Period),显影开始前的延迟。
区域曝光法的数学本质
区域曝光法(Zone System)中的 N, N+1, N-1 显影,本质上就是在调整 $t$ 以改变 $\gamma$。
- N (Normal):$\gamma \approx 0.7$。
- N+1 (Expansion):提高 $\gamma$,使 $\Delta D$ 在较窄的 $\Delta \log H$ 范围内拉开。
- N-1 (Contraction):降低 $\gamma$,将宽广的场景亮度范围压缩进底片的密度范围。
通过测定不同时间下的特性曲线,我们可以绘制 时间-伽马曲线 (Time-Gamma Curve),这是暗房工作者最重要的控制图表。
总结
特性曲线是胶片的灵魂。它不仅告诉我们感光度(ISO),还揭示了胶片的影调映射逻辑。掌握了特性曲线,我们就掌握了从场景亮度到底片密度的转换钥匙。
然而,特性曲线通常是在白光下测定的。如果光源颜色改变,或者加了滤镜,胶片的响应会如何?下一章,我们将探讨光谱响应与滤镜因子。